粉末衍射数据结合电子晶体学有助于更好地观察调制结构
电子晶体学被通常用于解决棘手的结构。当采用像差校正显微镜结合光谱技术时,它可以提供亚埃分辨率下观察到的前所未有的细节。
来源:Batuk等.
“实验结果表明,电子晶体学能适用于解决越来越多的问题,而这些问题曾经是X射线或中子衍射所涉及的领域,尤其是X射线或中子衍射实验需要粉末材料的情况下,电子晶体学的优势就更加明显。”捷克科学院节科学家Lukas Palatinus说。Palatinus指出,当遇到调制结构(每个原子的位置由于调制功能而从一个晶胞扰动到下一个)时,其结构比非调制材料要复杂得多。而发展有效的技术单晶衍射数据来解决问题是非常有必要的,这时Batuk及其同事的工作则浮出水面。
Batuk及其同事表明了电子晶体学如何回避粉末衍射的限制,而采用与粉末衍射调制结构互补的分析方法。“作者将之前的研究结论和当前结论相结合,用当下可用的方法和信息,来提供令人印象深刻的概述。” Palatinus说。该团队研究了一系列阴离子不足型的钙钛矿来证明该原理。在这些材料中,调制由于晶体剪切面的存在而产生,这种晶体剪切面的平均周期与材料的周期性是不一样的。Palatinus指出对于这些材料的选择是非常有好处的。“从粉末图样结合调制结构分析来看,这些结构具有很广泛的特点。” Palatinus说。“这使得研究人员可以说明许多的技术及其应用,例如重元素和轻元素的同时成像、原子分辨率化学图像或配位数的化学图像。”
此外,哟与钙钛矿的来临,近年来太阳能电池板材料越来越成为研究重点,因此半导体材料结构和性能的详细信息变得越来越重要。“使用以扫描透射电子显微镜(STEM)为基础的技术的获取的晶体信息以及粉末衍射的数据可以显著改善晶体结构的数据的可靠性。” Batuk及其同事在报告里面说。
新材料在线编译整理——翻译:杨超 校正:摩天轮
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